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讲座信息
(10.22)超出成像的电化学扫描探针显微镜及其应用
发布时间:2019-10-17       

学科进展系列报告

 

报告题目:超出成像的电化学扫描探针显微镜及其应用

报告人:毛秉伟 教授

单位:固体表面物理化学国家重点实验室,厦门大学化学化工学院,厦门,361005

时间:10月22日上午10:00

地点:江湾化学楼A3030

邀请人:蔡文斌  教授

 

摘要:

扫描探针显微镜(SPM)具有超高的空间分辨性和三维精确定位能力,从高空间分辨表面形貌成像,到物理化学性质成像,到各种联用技术的诞生,SPM经历了不同阶段的多样化发展,贯穿着仪器和方法的创新,而探针的作用也被发挥到极致。本报告主要针对超浓电解液体系的固-液界面和锂金属表面固态电解质界面相(SEI)二个分别代表基础电化学和实用电化学的重要体系,这两类系统都需要大量的短程和长程表面技术进行详细和系统的研究,以获得完整的图像,并将结构、性质和性能关联起来。

      

简介:毛秉伟,  1982年复旦大学化学系毕业,1987年获英国南安普敦大学化学系博士学位,1987至1992年先后在复旦大学和厦门大学从事博士后研究, 1989年至今在厦门大学工作,1996 年晋升为教授。现任ChemElectroChem期刊顾问委员会共同主席、《电化学》期刊编委。 长期从事电化学和谱学电化学新方法研究,在扫描探针显微学、界面电化学、纳米科学和表面科学的交叉学科开展研究, 研究方向包括离子液体界面电化学、能源电化学基础、表面纳米构筑和单分子电子学等。主持和完成国家自然科学基金委重点项目和973项目子课题等,发表学术论文190余篇。

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